X線単結晶方位測定装置 (s-Laue)
パルステック工業株式会社 /Pulstec Industrial Co., Ltd. パルステック工業株式会社 /Pulstec Industrial Co., Ltd.
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 Published On Jul 25, 2022

省スペースで取り扱いが簡単なラウエカメラ。

【製品特徴】 
・単結晶材料のX線回折(ラウエ斑点)画像を高速に取得。
・空冷X線発生装置と高感度検出器が一体となった卓上型。
・X線を垂直下向きに入射するため試料の設置が簡単。
・顕微鏡を用いて精密な位置合わせが可能。
・小型・軽量で省スペース化を実現。

【用途】
・主面方位の測定
・切り出し方位の確認・調整
・結晶性評価
・結晶成長、加工関連
・半導体デバイス製造・開発

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